服務介紹

歐盟於2005 年8月19日公告第2005/618/EC號決議，其中規範了六大限用有害物質在「均質物料(Homogeneous material)」中之最高濃度限值，所謂「均質物料(Homogeneous material)」是指一物料無法再以機械性方法拆解成其他單一均質物料。對於原物料或零組件產品，可利用拆解達到均質物料的要求，並使用『破壞性濕式分析』來檢驗；但對於模組與系統廠商而言，要將成品一一拆解成單一材質，這無疑是一項大考驗。

有鑒於此,化學實驗室為提升服務品質，於檢測服務中增加了X 光繞射分析法 (XRD, X-ray Diffraction)、波長分散式 X 光螢光分析法 (WD-XRF,)、能量分散式 X 光螢光分析法 (u-EDXRF) 和掃描式電子顯微鏡 (SEM-EDX, Scanning Electron Microscope) 等X 光的檢測儀器設備。

由於XRF的測試為非破壞性，且其分析時間較於其他的分析方法為短，故在進行工廠的進料檢驗(IQC)時，XRF是相當適當的工具。在供應鏈管理上，XRF可以在每一階段的生產單位擔任起初篩檢把關的任務，以降低誤用非RoHS材料之風險。

XRF優點包括：(1)譜線簡單，干擾少，不受化學鍵的影響。(2)分析元素範圍廣。(3)XRF對樣品前處理要求不高，分析速度快。(4)在材料分析的應用領域非常廣泛。XRF有不同的功能，可根據樣品的形態來選用。(5)測試費用比一般破壞性濕式分析便宜。

測試項目

• 石綿含量檢驗
• 貴重金屬分析、金屬表面分析
• 水泥成分分析、礦石類成份分析
• 固態結晶物質的定性分析、膜厚分析及元素之定性、定量分析等
• 代測粉末 XRD 圖譜、計算晶格常數、晶相分析
• 物體表面元素及薄膜厚度分佈圖形
• 樣品外來物分析

Mapping分析流程

• 步驟一：Mapping Analysis
  • 最大測試面積：5cm × 5cm
  • 測量時間：9 hr
  • 數據計算時間(轉換成元素分佈圖)：25 hr
    
    
• 步驟二：MultiPoints Analysis
  
  

  選擇易發生高含量的位置進行多點半定量分析以幫助了解元素分佈濃度

  
  

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